碳化硅超細(xì)微粉的粒度檢測(cè)
添加日期:[2017-4-28 8:40:44]
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　　粒度，即是顆粒的大小，目前檢測(cè)碳化硅超細(xì)微粉粒度的手段有很多種，最流行的，也是最簡(jiǎn)便的方法是采用激光粒度儀進(jìn)行測(cè)量，方法簡(jiǎn)單，測(cè)試速度快，精度高，準(zhǔn)確性高。在從事碳化硅超細(xì)微粉生產(chǎn)中需要對(duì)粉體顆粒粒度迅速檢測(cè)中，激光粒度分析儀是個(gè)錯(cuò)的選擇。特點(diǎn)是快速。
　　檢測(cè)粒度(顆粒大小)的方法有很多，“篩分析法”是其中一種。另外有“沉降法”、“激光法”、“電傳感法”等等。
　　由于，實(shí)際顆粒不是標(biāo)準(zhǔn)球形的；所以同一個(gè)樣品，用不同方法測(cè)出的粒度數(shù)值有差異；形狀離球形越遠(yuǎn)，差異越大。用激光法測(cè)到的粒度，對(duì)應(yīng)目數(shù)是很不準(zhǔn)確的。目數(shù)是對(duì)應(yīng)篩分析法的。